ATR和镜面反射功能提供了应用的多功能性。 由于很少或没有样品制备，样品吞吐量很高。 通常保持样品的完整性。 采样面积小-硅晶体ATR的直径小于250µm，金刚石的直径小于500µm。[详细内容]

无障碍的水平取样表面可容纳直径从52 x 10 mm到203 mm（8英寸）的晶片。 非接触式采样方法；与耦合晶体的接触在测量区域之外。 由于多次反射，灵敏度很高。 对于0.770毫米厚的晶片，从涂层表面提供33次反射。[详细内容]

方便的水平采样表面。 内置带滑动离合器的压力施加器，可重复施加压力。 从60º到65º的连续可变角度，可实现*大灵敏度的优化。 防反冲机制允许**、可重复的角度选择。[详细内容]

无阻碍的水平取样表面。 l 十三次反射。 l 易于更换的取样板，固体取样板包括用于分析粉末的压力板以及晶体。用于测量液体和糊状物的垫片密封槽，用户可更换ATR晶体。[详细内容]

金刚石10次反射 标称入射角为30°的Si晶体11次反射。 扩展Si晶体入射角为30°和23次反射 入射角为45°和10°的钻石反思。[详细内容]